10.3969/j.issn.1671-6906.2016.04.007
水分子对有机场效应晶体管阈值电压稳定性的影响
以重掺杂Si片为衬底,SiO2为栅绝缘层,并五苯为有源层,制备了有机场效应晶体管(OFETs),研究了空气中水汽对场效应性能的影响.实验表明:当器件较长时间放置在空气中时,吸附在并五苯和SiO2接触面之间的水分子导致阈值电压漂移,器件的稳定性降低;经过热处理的器件的阈值电压漂移现象消失.提出了解释阈值电压漂移现象的模型,该模型可解释水分子在这个过程中所起的作用.
有机场效应晶体管、并五苯、阈值电压漂移、热处理
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TN386(半导体技术)
国家自然科学基金项目11547221
2016-11-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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