利用高密度SNP芯片定位玉米雄穗分枝数QTL

摘要：

玉米雄穗分枝数是影响玉米产量的重要因素之一,研究控制玉米雄穗分枝数的QTL位点对玉米品种改良、分子辅助育种具有重要意义.本研究利用京科968的双亲京724和京92构建BC1F1群体,以Maize6H-60K高质量高密度SNP芯片鉴定群体基因型,获得28910个高质量多态性SNP,构建了包含2737个BIN标记的高密度遗传图谱,各染色体BIN标记数在145～512个之间,BIN标记平均遗传距离为0.56 cM.2021年将亲本及727个单株种植在北京,调查雄穗分枝数.采用QTL IciMappingV4.2的完备区间作图法进行雄穗分枝数QTL检测及定位,共检测到6个QTL,分别位于第2、5、6、7、8和9染色体,QTL的LOD值范围为3.18～11.08,揭示1.58％～5.59％的表型变异.通过物理位置比对,6个QTL中有4个与前人定位在相同区域,qTBN6和qTBN7尚未见报道.其中qTBN6的LOD为6.73,增效等位基因来自京724,具有负的加性效应,作用为减少雄穗分枝数.本研究为克隆调控雄穗分枝数功能基因奠定了基础.

关键词：玉米、雄穗分枝数、SNP芯片、QTL定位

所属期刊栏目：23

分类号：S513;TN405.94;S603.6

资助基金：国家重点研发计划2016YFD0101803

在线出版日期：2022-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：832-841