高温、强光下黄瓜叶片PSII供体侧和受体侧的伤害程度与快速荧光参数Wk变化的关系

摘要：

快速荧光OJIP曲线中的Wk参数被广泛作为放氧复合体(OEC)即PSII供体侧伤害的重要指标。然而Wk这一参数的变化不仅受PSII供体侧伤害的影响，而且还会受到PSII受体侧伤害的影响。很多研究者在使用Wk这个参数时忽略了这个问题。为了阐明PSII供体侧和受体侧伤害程度对Wk影响的规律，我们通过不同温度和强光处理，获得不同PSII供体侧和受体侧伤害的黄瓜叶片，进而分析Wk变化与其供体侧和受体侧伤害程度之间的关系。研究结果表明：用高温黑暗处理黄瓜叶片后，其PSII供体侧受到严重的伤害，此时， Wk随着供体侧伤害程度的增加而显著增加，在这种情况下， Wk的增加直接反映了OEC的伤害程度；但是当用强光和高温共同处理黄瓜叶片后，造成PSII供体侧和受体侧同时伤害时，如果供体侧的伤害程度大于受体侧的伤害程度时， Wk仍然升高，然而，当受体侧的伤害程度大于供体测定伤害程度时， Wk不再显著升高。因此在植物叶片的供体侧和受体共同受到伤害时，要慎重使用Wk这一参数来判断OEC的伤害程度。本文对Wk在不同供体侧和受体侧伤害条件下的变化规律进行了详细的研究，并对如何正确使用Wk来反映逆境对植物叶片OEC的伤害程度进行了探讨，该研究结果可以对正确利用叶绿素快速荧光OJIP分析提供指导。

关键词：快速叶绿素荧光、PSII供体侧、PSII受体侧、放氧复合体(OEC)、Wk

分类号：S663.3;Q945.78;S512.1

资助基金：高等学校博士学科点专项科研基金;国家自然科学基金

在线出版日期：2015-07-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：969-976