根管显微镜对上颌第一磨牙遗漏近颊第二根管再治疗效果分析
目的 探讨使用根管显微镜对上颌第一磨牙遗漏近颊第二根管的治疗效果.方法 选取2017年12月～2018年12月在我院实行根管再治疗的上颌第一磨牙60例患者为研究对象,按照X线片的特点,牙冠和髓底的形态特点判定是否有上颌第一磨牙近颊第二根管(MB2)的存在.使用斜方形开髓入口,探查工具为小号K锉,必要时可以借助根管手术显微镜定位MB2根管.镍钛机使用根管锉冠向下法预备根管,1％NaClO对根管系统进行冲洗,冷牙胶侧方加压和热牙胶垂直加压充填根管.记录近颊根的根管分型、MB2根管畅通情况及VAS评分情况.结果 再治疗内共出现MB2根管52例,疏通43例(82.7％).近颊根双根管比较常见的是2-1型和2-2型.治疗中无任何器械折断和管壁侧穿的情况.治疗后患者VAS评分[(2.6±0.8)分]较治疗前患者VAS评分[(4.6±1.5)分]明显降低,差异有统计学意义(t=3.1673,P<0.05).结论 上颌第一磨牙MB2有着较高的发生率,并且有着弯曲、隐蔽和狭窄等情况,增加了治疗难度,临床医生有意识的寻找并结合显微镜下的可视化操作可以提升MB2根管的发展及成功率.
上颌第一磨牙、根管显微镜、近颊第二根管、再治疗
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R781.05(口腔科学)
2019-10-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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