广元地区0～6岁智力低下儿童的致残危险因素分析

摘要：

目的 分析四川省广元地区0～6岁儿童智力低下的主要致残因素,为预防和降低MR发病率提供重要依据.方法 用丹佛智力筛查量表-DDST和韦氏儿童智力量表-CWYCSI,对广元地区的46839例儿童进行智力筛查和测试,对确诊为智力低下(MR)的儿童进行分析,探讨其致残原因.结果 广元地区0～6岁MR儿童的发病率为10.82‰,其中严重智力障碍发病为203例(4.33‰),轻度智力障碍发病为304例(6.49‰),高于文献报道的发达国家发病率(2‰～4‰).躯体因素中各种围生期因素(早产、窒息、缺血缺氧性脑病等)、重度脑瘫和社会心理因素占主要地位,相应比例为27.42%、22.29%和17.16%;农村和城市的病因分布存在显著差异(P＜0.01).多数农村儿童的双亲受教育水平低于同类的城市水平.结论 维生期因素是影响儿童智力发育的重要原因;宫内感染、出生后的脑部感染、脑损伤及营养不良等均可以独立影响到患儿的智力发育;父母文化水平的差异也是影响儿童智力发育的原因之一.

关键词：智力低下、致残因素、儿童

所属期刊栏目：47

分类号：R394

在线出版日期：2009-11-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：16-18