透明导电ZTGO薄膜的制备及其光电性能研究
采用射频磁控溅射方法制备了ZTGO透明导电氧化物薄膜,通过紫外-可见分光光度计和四探针仪的测试以及光学表征技术,研究了生长温度(Tem)对样品光学、电学和光电综合性能的影响.结果表明,薄膜样品的性能参数与Tem值密切相关.当Tem为640 K时,样品的电导率为7.86×102 S?cm-1、光学带隙为3.48 eV、Urbach能最小为0.167 eV、可见光区平均透过率最高为84.61%、优良指数最大为0.423 S,具有最好的光电综合性能.
磁控溅射、透明导电氧化物、薄膜
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TM914
湖北省自然科学基金资助项目2011CDB418
2021-04-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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171-176