基于热敏感电参数法的IGBT模块结温检测
IGBT(绝缘栅双极型晶体管)在电力系统、 交通、 军工、 航天等诸多领域得到广泛应用,其可靠性关乎整个系统的稳定,而模块的结温是IGBT可靠性研究中至关重要的一环.但在实际工作电路中,其芯片封装在IGBT内部,要实现结温的实时检测非常困难.在此条件下,综合考虑各结温测量方法的可行性及测量的准确性后,选取饱和压降作为热敏感电参数来预测结温.利用饱和压降测试平台提取所需热敏感电参数,然后结合试验数据建立了基于误差反向传播算法的IGBT模块结温预测神经网络模型,构建热敏感电参数与结温的映射关系.避开IGBT模块的物理结构,实现了对IGBT在实际工况条件下结温的准确预测.
IGBT、结温检测、神经网络、热敏感电参数、饱和压降
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TN323.4;TN386.2(半导体技术)
国家自然科学基金资助项目51477138
2019-05-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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