应用弥散张量成像技术判定高级别胶质瘤侵袭范围的初步研究

摘要：

目的 探索高级别胶质瘤的侵袭特点,并应用磁共振弥散张量成像(DTI)定量分析高级别胶质瘤的侵袭范围.方法 回顾性纳入首都医科大学附属北京天坛医院神经外科2014年10月至2016年10月收治的10例额叶高级别胶质瘤(WHOⅢ～Ⅳ)患者.所有患者术前均行头颅MRI及DTI检查,于MRI T1加权增强扫描图像上,分别在肿瘤强化实体、距离强化实体边缘1 cm和2 cm的部位各选取1个感兴趣区;之后应用DTI技术测定3个感兴趣区的各向异性分数(FA)值和表观弥散系数(ADC)值.所有患者均行肿瘤切除术,术后对3个感兴趣区的标本依次进行相关病理学检查和肿瘤细胞比例测定.通过建立判别分析模型,对3个感兴趣区的ADC、FA值与肿瘤细胞比例进行相关性分析.结果 病理学相关结果显示,随着距离肿瘤实体边缘距离的增加,残余肿瘤细胞比例显著减少(均P＜0.05);基质金属蛋白酶9和Ki-67的表达较肿瘤实体显著下降(均P＜0.05).通过对3个感兴趣区的ADC、FA值与肿瘤细胞比例进行相关性分析,得到标准化典则判别函数为D=0.201ADC+1.094FA(其中D为肿瘤细胞的比例,为标准化的数值),该函数可通过DTI测定的ADC值和FA值预测肿瘤细胞的比例,准确率为66.7％.结论 随着距离高级别胶质瘤实体边缘距离的增加,肿瘤细胞的比例、侵袭性和增殖力均较肿瘤实体明显下降.通过建立判别分析模型,初步得出DTI参数与肿瘤细胞比例的量化关系,以期协助指导临床手术方案的制定.

关键词：神经胶质瘤、肿瘤侵润、弥散张量成像

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资助基金：National Science and Technology Infrastructure Program during the 15th Five-Year Plan Period2014BAI04B01;Program of Beijing Municipal Science and Technology Commission Z131100006813011国家“十二五”科技支撑计划2014BAI04B01;北京市科委首都市民健康项目培育Z131100006813011

在线出版日期：2018-05-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：344-348