高性能处理芯片的测试和可靠性设计关键技术

摘要：

在集成电路(IC)芯片广泛应用于电子信息系统、产品质量要求日益提高的大趋势下,为尽量减少芯片制造中产生的故障导致信息系统失效,对芯片故障快速可靠精确测试及容错的需求愈加提高.测试和可靠性设计是数字IC质量保障的主要技术手段,主要包括:在芯片内部设计测试电路(可测试性设计),由测试生成软件产生测试数据,外部测试设备提供测试时钟和测试通道,根据测试结果进行故障诊断;针对可能的故障行为对芯片进行可靠性评估,针对芯片脆弱部分在芯片内部设计容错电路(可靠性设计)等.

机标关键词：设计关键技术、高性能处理、可靠性设计、处理芯片

分类号：TP393;U463.51;TH134

在线出版日期：2012-10-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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