上颌磨牙腭侧双根发生率及解剖特征的锥形束CT研究

摘要：

目的 利用锥形束CT观察上颌磨牙腭侧双根的发生率及解剖结构特征,以期为临床提供参考.方法 收集528例(1957颗上颌磨牙)锥形束CT的临床三维影像资料,记录患者年龄、性别、观察牙位及腭根数目,观察腭侧双根的发生率、解剖特征及腭侧双根与性别、观察牙位等因素的关系.结果 上颌磨牙腭侧双根的发生率为0.72％ (14/1957),上颌第二磨牙腭侧双根的发生率”1.12％(11/979)”高于第一磨牙”0.31％ (3/978)”.上颌腭侧双根的根管口平均距离为(2.84±0.50) mm,近腭根与远腭根牙根长轴夹角平均值为(34.6±16.1)°,均显著大于两颊根的根管口平均距离”(2.15±0.82) mm”和牙根长轴夹角”(21.3±12.2)°”(P＜0.05).上颌磨牙腭侧双根的发生与性别、左右方位因素无显著相关性(P＞0.05).结论 上颌第二磨牙腭侧双根的发生率大于第一磨牙,两腭根的根管口平均距离及两腭根夹角均显著大于两颊根,腭侧双根预备难度大于颊侧双根,需谨防器械分离.

关键词：锥束计算机体层摄影术、磨牙、牙髓腔、腭根

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在线出版日期：2013-07-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：359-362