局灶性脑皮质发育不良的MRI表现及分型

摘要：

目的 研究局灶性脑皮质发育不良(FCD)的MRI分型及其表现特点.资料与方法 收集经手术病理证实的54例FCD患者,回顾性分析其MRI表现.观察病变部位、皮质厚度、灰白质界限、白质信号及脑回和脑沟形态.分析病变区信号变化和皮质厚度,对FCD的MRI表现进行分型.结果 FCD的MR影像表现可分为3型:放射带型、高信号型及轻微型.放射带型10例,表现为皮质/皮质下T2WI/液体衰减反转恢复序列(FLAIR)高信号,白质内异常信号从皮质向侧脑室延伸；高信号型25例,表现为皮质/皮质下片状T2WI/FLAIR高信号,皮质增厚,但无放射带；轻微型19例,表现为无皮质下高信号,皮质T2WI/FLAIR轻微高信号,皮质增厚.结论 FCD的病变表现多样,可分为放射带型、高信号型及轻微型3种类型,FCD的影像分型有助于其影像诊断和认识.

关键词：局灶性皮质发育不良、磁共振成像、诊断

所属期刊栏目：19

分类号：R742.8(神经病学与精神病学)

在线出版日期：2011-11-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：703-706