10.3969/j.issn.1006-5741.2018.04.004
磁敏感加权成像在脑外伤所致精神障碍原因分析中的应用
目的:探索磁敏感加权成像(SWI)在脑外伤所致精神障碍者精神伤残评定中的运用价值.方法:对56例脑外伤所致精神障碍者行T1加权、T2加权、液体衰减反转恢复(T2 Flair)、磁共振弥散加权成像(DWI)及SWI扫描,并对其影像进行分析,对比各种方法显示病灶的数目、范围的效果.结果:56例患者中,T1加权成像显示病灶181个,检出率为50.00% (28/56);T2加权成像显示病灶185个,检出率为50.00% (28/56);T2 Flair成像显示病灶185个,检出率为50.00% (28/56);DWI成像显示病灶186个,检出率为55.36% (31/56);SWI成像显示病灶883例,检出率为80.36% (45/56),其中16例病灶为SWI特有,在其他序列上未显示.结论:SWI能明显提高脑外伤所致精神障碍者病灶的检出率,为正确的脑外伤后伤残评定提供客观依据.
脑外伤、精神伤残、磁敏感加权成像
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R445.2(诊断学)
2018-12-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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