脑损伤后锥体束Wallerian变性的氢质子磁共振波谱成像

摘要：

目的:探讨氢质子磁共振波谱(1HMRS)成像技术检测和定量分析脑损伤后锥体束Wallerian变性的可行性.方法:对15例单侧脑损伤且出现同侧锥体束Wallerian变性患者和15例年龄匹配的健康志愿者(对照组)行常规MRI检查,并同时行1HMRS检查,测量双侧大脑脚锥体束走行区的NAA/Cr、Cho/Cr值,比较该值在脑损伤组与对照组间的差异.结果:脑损伤后同侧大脑脚谱线图显示NAA峰减低,Cho峰升高,NAA/Cr值较对侧明显减低,Cho/Cr值明显升高,与对侧及对照组比较,差异均存在统计学意义(P＜0.001),而病变组对侧大脑脚及对照组双侧大脑脚的NAA/Cr、Cho/Cr值差异无统计学意义.结论:1HMRS技术可以检测并定量分析脑损伤后锥体束Wallerian变性.

关键词：氢质子磁共振波谱、Wallerian变性、锥体束、脑损伤

所属期刊栏目：21

分类号：R445.2(诊断学)

资助基金：江苏大学2012年度医学临床科技发展基金JLY20120066;Clinical medical science and Technology Development Foundation of Jiangsu University in 2012LY20120066

在线出版日期：2015-12-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：501-504