新生儿缺氧缺血性脑病的磁共振成像
磁共振成像技术已被认为是评估新生儿缺氧缺血性腩病(HIE)神经损害程度最有价值的影像学方法之一.本文将复习HIE相父病理生理特点,着重探讨头颅磁共振常规扣描序列(T1FLAlR、T2FLAIR,T2WI)、弥散加权成像(DWI)、弥散张量成像(DTI)、波谱(MRS)及磁敏感加权成像(SWI)在不同时期新生儿缺氧缺血性脑病中的临床应用价值.
缺氧缺血性脑病、磁共振成像、新生儿
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R445.2(诊断学)
2009-12-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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