期刊专题

新生儿缺氧缺血性脑病的磁共振成像

引用
磁共振成像技术已被认为是评估新生儿缺氧缺血性腩病(HIE)神经损害程度最有价值的影像学方法之一.本文将复习HIE相父病理生理特点,着重探讨头颅磁共振常规扣描序列(T1FLAlR、T2FLAIR,T2WI)、弥散加权成像(DWI)、弥散张量成像(DTI)、波谱(MRS)及磁敏感加权成像(SWI)在不同时期新生儿缺氧缺血性脑病中的临床应用价值.

缺氧缺血性脑病、磁共振成像、新生儿

15

R445.2(诊断学)

2009-12-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共7页

403-409

暂无封面信息
查看本期封面目录

中国医学计算机成像杂志

1006-5741

31-1700/R

15

2009,15(5)

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn