CMC芯片架构及并行测试方法

摘要：

CMC芯片是面向工业控制领域开关量控制、模拟量控制、运动控制、信息采集、工业无线、低功耗和分布控制几个方面的片上控制系统,本文介绍CMC芯片的总体软硬件架构,并给出CMC芯片并行测试技术和方法.

关键词：CMC芯片、芯片并行测试技术

分类号：TN9;TN4

在线出版日期：2015-09-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：22-24