回返抑制效应受工作记忆容量影响的事件相关电位时空模式分析

摘要：

目的 探究工作记忆容量(WMC)与回返抑制(BI)的相互关系,结合事件相关电位(ERP)时空模式考察BI产生的时间和相关脑区.方法 24名受试者先进行延迟匹配样本任务测量WMC,再行3种线索提示下的数字属性判断任务:质数或合数、奇数或偶数、大于5或小于5,受试者以左右手按键判断,ABA类型的重复序列或CBA类型的非重复序列分别构成测试与对照任务,同步记录ERP.对高低容量组各9人的行为数据和ERP分别进行统计分析.结果 24名受试者wMc的K分值为(4.13±1.02)分;高容量组BI效应显著高于低容量组(t(16)=2.345,P=0.032);正确率差异无显著性(t(16)=0.738,P=0.471).ERP的F值统计参数映像提示容量与任务的显著交互效应发生在-390～-370ms和250～290ms的额顶区.结论 BI效应受工作记忆容量影响,高容量者BI效应更大;回返抑制可能产生于线索(-390～-370ms)和刺激(250～290ms)评价两个阶段,相关脑区恰好同工作记忆涉及区域重叠.

关键词：回返抑制、工作记忆容量、事件相关电位

所属期刊栏目：17

分类号：R74(神经病学与精神病学)

在线出版日期：2009-03-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：1086-1088