10.3321/j.issn:1000-4343.2005.04.008
(Gd1-xREx)5Si4(RE=Dy, Ho)系列材料磁熵变研究
对 (Gd1-xDyx)5Si4(x=0.1, 0.2, 0.3, 0.35) 和(Gd1-xHox)5Si4(x=0.05, 0.15, 0.25)系列合金的居里温度、磁相变、磁熵变等磁性质进行了研究. 结果发现: 该系列合金保持了Gd5Si4的Sm5Ge4正交型晶体结构, 居里温度随着引入的x量的增加而呈近似线性减小趋势;在居里温度附近样品的磁特性符合二级相变规律;通过调节Dy 或Ho的含量调节居里点, 样品中不含贵重元素Ge, 大大降低了成本;在较宽的温度范围和低场下(<2 T)具有较大的磁熵变值从而使其适合于被制成梯度功能复合材料. 研究表明 (Gd1-xREx)5Si4(RE=Dy, Ho)系列材料有望成为较好的室温低场磁制工质.
磁制冷材料、磁热效应、磁熵变、稀土
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TG132;TG146.453;TB64(金属学与热处理)
国家高技术研究发展计划863计划2002AA324010
2005-10-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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