过饱和度对中等浓度铝酸钠溶液结构影响的X-射线衍射研究
应用溶液X-射线衍射分析,首次研究了系列中等浓度过饱和铝酸钠溶液的结构,探讨了过饱和度对溶液结构的影响,初步获得了有关离子的配位数及一些化学键的键长.实验结果表明各种饱和度的铝酸钠溶液中铝酸根离子的基本结构为四配位的铝酸根离子;与高浓度铝酸钠溶液中Al-O键长随过饱和度增大而收缩相反,中等浓度溶液中Al-O键长随过饱和度增大而膨胀,预示高过饱和中等浓度溶液中,铝酸根离子有较大的聚合趋势.同时,H2O-H2O(OH)第一配位层的O-O键长亦随过饱和度的增大而拉长.在溶液的基本结构相似的情况下,Al-O键、O-O键的键长随过饱和度增加,将使得溶液不稳定.
X-射线衍射分析、铝酸钠溶液、溶液结构、过饱和度
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O645.16(物理化学(理论化学)、化学物理学)
国家重点基础研究发展计划(973计划)
2007-07-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
1013-1015