转基因大豆低密度基因芯片的检测方法研究

摘要：

目的 建立Roundup Ready转基因大豆(简称RRS)的基因芯片检测方法,探讨其在转基因大豆检测中的应用.方法 根据大豆中所转入的外源基因,选择camv35s启动子、nos终止子和cp4epsps基因,以大豆内源基因lectin基因为内参照基因设计了引物和探针,并制备了核苷酸芯片;通过多重PCR对样品核酸进行扩增和荧光标记后,将PCR产物与芯片杂交,检测大豆样品中所含的外源基因,并评价方法的灵敏度.结果 检测转基因含量不同的RRS标准参考物,结果显示:camv35s启动子、nos终止子、外源基因cp4epsps检测灵敏度均可达0.45%.结论 本研究所建立的基因芯片检测方法有良好的灵敏度及可重复性,有助于实现转基因大豆的高通量、高灵敏的检测.

关键词：转基因、大豆Δ、寡核苷酸序列分析、聚合酶链反应

所属期刊栏目：20

分类号：R15;S565.1;Q789(营养卫生、食品卫生)

资助基金：国家高技术研究发展计划863计划2002AA212041;国家重点基础研究发展计划973计划2001CB109001

在线出版日期：2008-06-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：97-102