含Fe3+的硅酸盐尖晶石γ-Fe2SiO4的M(o)ssbauer效应研究

摘要：

对3个合成的含Fe3+的铁硅酸盐尖晶石γ-Fe2SiO4进行了电子探针分析, 并在298, 150和95 K的温度下对它们进行了M(o)ssbauer谱的测试. 每个温度下的M(o)ssbauer谱均由两个双峰组成. 这两个双峰分别被指派给八面体位置上的Fe2+和四面体位置上的Fe3+, 并且根据M(o)ssbauer吸收面积给出了占位. 结果表明, Fe3+和少量的Si4+分别占据在四面体和八面体位置上. 根据M(o)ssbauer分析所得到的占位, 使用经过修正的公式, 计算了八面体和四面体位置的平均键长. 在此基础上, 八面体和四面体的平均键长进而被用来计算含Fe3+的γ-Fe2SiO4的晶胞参数和氧参数. 此外, 使用次近邻效应解释了含Fe3+的γ-Fe2SiO4 M(o)ssbauer谱的Fe3+谱线的宽化现象.

关键词：含Fe3+的铁硅酸盐尖晶石、M(o)ssbauer效应、平均键长、晶胞参数、氧参数

所属期刊栏目：30

分类号：O6(化学)

资助基金：中国科学院知识创新工程项目CX2000-2;日本学术振兴会资助项目

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：315-323