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10.3969/j.issn.1671-2064.2017.04.096

氮化硅膜折射率对多晶硅太阳能电池抗PID性能影响

引用
本文研究了在组件使用抗PID的EVA的条件下,不同的氮化硅膜折射率对组件抗PID性能的影响.实验结果表明,在电池增加了臭氧氧化,在组件使用抗PID的EVA条件下,2.02-2.18范围内的折射率对组件抗PID性能的影响没有明显区别,2.10的折射率生产的太阳电池转换效率最高.

PID、折射率、太阳电池转换效率

TM914

2017-06-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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1671-2064

11-4650/N

2017,(4)

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