原子氧及紫外线对O形圈泄漏率影响的研究

摘要：

运用地面模拟设备对硅橡胶材料O形圈进行了原子氧暴露、紫外线辐射实验研究;利用测压法进行了O形圈在原子氧暴露及紫外线辐射前后的泄漏率比对实验,并对实验前后O形圈进行了扫描电镜分析.实验表明:原子氧和紫外线辐射对O形圈的表面状况及泄漏率均有明显影响.

关键词：紫外线、原子氧、硅橡胶、密封试验

所属期刊栏目：23

分类号：V25(航空用材料)

资助基金：国家高技术研究发展计划863计划863-2-4-4-7

在线出版日期：2004-03-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：65-71