星载面阵CCD性能测试系统设计及温度影响分析

摘要：

针对多角度偏振成像仪探测器光电性能的评估需求,研制一套图像传感器光电性能参数通用测试系统,并提出一种基于珀耳帖效应的热电制冷器和低温循环机相组合的探测器控温方法.实验结果表明积分球的光源稳定性为0.036％,照度均匀度≥99.3％,探测器制冷系统降温速率约为2.2℃/min,温控精度优于±0.15℃,实现在-10～25℃的工作温度范围内对量子效率、光响应不一致性、暗电流、满阱电荷和光响应非线性等关键性能参数的测量,多角度偏振成像仪探测器不同波长下的光响应不一致性优于3％,光响应非线性优于1％,工作温度升高至9℃暗电流增加1.25倍,近红外波段的量子效率变化3.58个百分点.探测器性能的评估为多角度偏振成像仪整机的性能测试和定标需求提供保障.

关键词：测量、偏振成像仪、电荷耦合器件、光电性能、温度控制、半导体制冷器

所属期刊栏目：47

分类号：TN386.5(半导体技术)

资助基金：高分辨率对地观测系统重大专项民用部分;高分专项民用部分卫星应用共性关键技术项目

在线出版日期：2020-11-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：308-317