Z箍缩等离子体X射线椭圆弯晶谱仪

摘要：

为了测量Z箍缩等离子体X射线的空间分辨光谱,利用椭圆聚焦原理,研制了一种椭圆晶体谱仪.以Si(111)椭圆弯晶作为色散分析元件,椭圆的离心率为0.9480,焦距为1348 mm,布拉格角范围为30°～54°,谱线探测角范围为54°～103°,探测的波长范围为0.31～0.51 nm.设计了半径为50 mm的半圆型胶片暗盒,内装胶片接收光谱信号.分析了椭圆的弥散度对光谱分辨率的影响.在"阳"加速器装置上进行摄谱实验,胶片成功获取了氩喷气等离子体X射线的跃迁光谱,实测谱线分辨率(λ/Δλ)达300～500,波长与理论值吻合.

关键词：光学器件、等离子体光谱学、椭圆弯晶谱仪、Z箍缩、X射线

所属期刊栏目：36

分类号：TH744.15;O434.13(仪器、仪表)

资助基金：国家自然科学基金10576041;国家863计划资助项目

在线出版日期：2009-03-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：115-118