10.3321/j.issn:0258-7025.2004.z1.164
化学氧碘激光器光学基片材料的光致热畸变特性
利用格林函数解析法对强激光辐照下的光学材料Al2O3、CaF2、Si、SiO2四种基片的温度场分布以及热畸变特性进行了分析与讨论.计算结果表明:在10lW激光功率、辐照时间为5 s情况下,Al2O3、CaF2、Si、SiO2基片中心处最大温升分别为5.6℃、6.0℃、35.1℃、26.6℃;基片中心最大热畸变量分别为:0.28μm,0.99μm,040μm,0.14μm.
光电子学与激光技术、化学氧碘激光器、窗口材料、热畸变
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TN248.5(光电子技术、激光技术)
国家高技术研究发展计划863计划;国家自然科学基金69878008
2004-05-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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