利用硅雪崩二极管检测激光脉冲信号

摘要：

研究了用雪崩二极管(SiAPD)检测激光脉冲回波信号的统计特性,分析了激光测距系统的探测概率、虚警概率和漏探测概率与系统参数及检测电路所设阈值的关系.阈值的选取对系统的探测性能有很大影响,对实际系统的计算表明,回波产生的初级光电子数和SiAPD的平均增益决定了阈值的选取区间.

关键词：硅雪崩二极管、探测概率、虚警概率

所属期刊栏目：29

分类号：TN247(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家高技术研究发展计划863计划1

在线出版日期：2008-08-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：541-544