期刊专题

10.3969/j.issn.1681-5289.2024.01.008

一种全尺寸MOS晶体管的俘获隧穿电流优化模型

引用
针对当前的俘获隧穿电流模型中,对于不同器件尺寸只有统一的参数进行模型拟合,存在无法针对器件尺寸变化进行准确地模型拟合的问题.本文提出了在俘获隧穿电流模型的参数中,添加与器件全尺寸信息相关的方法,包括器件宽度方向,长度方向及小尺寸的系数对原有的漏电模型基础上进行优化,使得该优化的漏电模型能更好地反应器件特性实测数据,更好地解决了俘获隧穿电流更准确地表征器件特性的问题,这就提高了给电路设计者做仿真参考的准确性.

MOS晶体管、俘获隧穿电流、全尺寸、SPICE模型

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TN386.1;TN402;TP212.1

2024-02-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

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中国集成电路

1681-5289

11-5209/TN

33

2024,33(1)

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