超高频(UHF)芯片测试的管理优化研究

摘要：

本文主要阐述基于应用管理科学的理论和方法来研究芯片测试项目管理,并提出优化芯片测试项目管理的建议.研究发现M(上海集成电路技术与产业促进中心检测实验室)检测实验室在UHF芯片检测项目中存在管理问题,因此提出了基于管理学模型的优化方案,从而提高M检测实验室在UHF芯片检测项目上的效率.

关键词：网络图、管理优化、UHF芯片测试

所属期刊栏目：32

分类号：TM855;F274;F425.7

在线出版日期：2023-10-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：87-91