一种针对非接触智能卡的抗干扰测试方法

摘要：

智能卡业界领域很少有专门针对非接触智能卡的抗干扰测试方法,但非接触智能卡同样存在数据健壮性问题,需要进行抗干扰测试,本文专门介绍一种非接触智能卡的抗干扰测试方法.

关键词：数据破坏、非接触智能卡、抗干扰测试

所属期刊栏目：32

分类号：TP393;TN925.93;F270

在线出版日期：2023-08-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：86-89