芯片阻抗测试方法的研究:一个新视角

摘要：

伴随着半导体技术的进步和信息产业的快速发展,射频/微波半导体器件的应用广泛性在不断增加[1].因此,对于这些器件参数的精确测量在设计阶段的重要性也随之上升.这不仅对芯片的设计者产生了深远影响,他们需要准确测量芯片的各项参数,同时也使得芯片的使用者期待获得准确的参数.在微波网络的S参数测量中,需要处理由于芯片键合线和传输线引起的测量误差[2].因此,开发一种可以快速测量芯片阻抗、低成本、周期短且能够测量芯片相应S参数的方法具有极大的实际价值.本文从技术角度出发,探讨了这类通用的测量方法.

关键词：芯片阻抗、S参数、ADS仿真、阻抗匹配、阻抗测试方法

所属期刊栏目：32

分类号：TN385;TM934.7;TP311.52

在线出版日期：2023-08-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：81-85