车规级芯片的加严筛选

摘要：

车规级芯片对安全性和可靠性有着严格的要求,所以要在测试端进行加严筛选,以达到零失效的目标.常见的加严筛选项目有动态零件平均测试(DPAT)、坏集群中的良品(GDBC)、堆叠晶圆图、老化(Burn-in)等,本文阐述了加严筛选项目的作用,并通过实验说明了加严筛选的执行方式及筛选出的比例.

关键词：车规级芯片、零失效、加严筛选、DPAT、GDBC

所属期刊栏目：32

分类号：U2;TD55;D924.13

在线出版日期：2023-07-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：88-91