层次化设计方法在存储器内建自测试上的应用

摘要：

本文简单介绍存储器内建自测试设计技术原理,针对具体的RTL实例,对自顶向下设计方法和层次化设计方法进行了比较.实例结果表明:层次化的设计方法在大型芯片的存储器内建自测试设计中,可以加速设计,减少设计迭代时间,大幅提高工作效率.

关键词：层次化设计、存储器内建自测试

所属期刊栏目：32

分类号：TP391.9;TN43;TN929.53

在线出版日期：2023-05-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：21-24