基于数据分析的测试良率提升

摘要：

随着半导体产业的快速发展,高质量、高可靠性的集成电路受到越来越多客户的重视.要保证集成电路的高质量产出,在集成电路的测试阶段,芯片的测试良率及其失效情况则显得尤为重要.本文从数据分析的角度出发,就如何在保证集成电路质量的前提下科学改善测试过程中的失效情况及测试良率进行了研究.通过对实际测试数据的统计对比分析,验证了所提方法可有效改善集成电路的测试稳定性,减少失效数量,提高测试良率.

关键词：统计过程控制、数据分析、最终测试

所属期刊栏目：32

分类号：TN43;TN305.7;TM921.51

在线出版日期：2023-03-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：91-95