10.3969/j.issn.1681-5289.2023.01.018
测试一次良率提升探析
集成电路测试过程中提高一次测试良品率是节约成本和提高效率最直接的方法.由于测量系统精度的限制以及测试条件的差异,误测时常发生.本文探讨了部分影响一次测试良品率的因素及其解决方法.
误测、一次良率、良率提升
32
TN43;TM934.31;TN312.8
2023-03-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
87-90
10.3969/j.issn.1681-5289.2023.01.018
误测、一次良率、良率提升
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TN43;TM934.31;TN312.8
2023-03-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号：2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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