浅析ATE的TMU和参数扫描测试方法

摘要：

随着科学技术的快速发展,经济社会已进入大数据时代,集成电路都朝着高速高精度方向发展,进而对保障电路质量的电路测试的速度和精度也提出了新的要求.使用分立的设备测试电路,操作复杂,测试时间长,显然已经不能满足当前的测试需求.自动测试设备(Automatic Test Equipment,简称ATE)可同时提供数字、模拟和射频测试资源,有广泛的硬件和软件支持,在集成电路测试方面具有很大的优势.本文系统的介绍了 ATE的时间测量单位(TMU)和参数扫描两种测试方法的原理,对比了两种测试方法的优缺点,并使用这两种方法对时钟电路的电参数进行了测试,对测试结果进行了简单对比.

关键词：ATE、TMU、参数扫描

所属期刊栏目：31

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2022-08-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：85-89