期刊专题

10.3969/j.issn.1681-5289.2022.01.013

存储器数据保持寿命预测方法研究

引用
研究存储器数据保持时间的温度加速效应,建立数据保持时间寿命预测方法和温度加速模型,实现应用温度数据保持时间的准确预测.通过研究和分析存储器在不同温度下的阈值电压随时间加速衰减测试数据,采用阿列纽斯模型即温度倒数(1/T)模型和温度(T)模型,推导出了温度加速参数,分别进行了应用温度下数据保持时间预测外推,并和应用温度下实际测试数据外推的数据保持寿命进行对比分析,得出数据保持寿命预测的准确模型.对比分析结果显示,阿列纽斯模型温度倒数(1/T)模型会导致预测寿命结果偏好很多倍,和实测数据结果差异较大,而温度(T)模型对数据保持时间寿命的预测很接近,也更为准确.分析比较了数据保持时间寿命预测的两种加速模型,即阿列纽斯温度倒数模型和温度模型,验证了温度模型可大幅度提高数据保持时间的预测准确度.

可靠性;存储器;数据保持;寿命预测;高温存储

31

2022-03-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

76-79

暂无封面信息
查看本期封面目录

中国集成电路

1681-5289

11-5209/TN

31

2022,31(1)

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn