航顺HK32MCU闩锁效应问题研究及预防措施

摘要：

O 前言
随着航顺HK32MCU芯片在市场上被越来越多工程师选择应用,在实际应用中,有些硬件工程师出于降低成本的考虑,在硬件电路设计时就MCU电源部分设计过于简单;有些由于对数字电路不够熟悉,设计电路时过于随意,I/O口高电平直接接在电源上;有些在使用过程中非常规操作等等,导致在MCU上电阶段小概率出现MCU工作不正常,芯片发热甚至烧毁的现象.究其原因,是在某些极端的条件下芯片内部触发了闩锁效应.

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在线出版日期：2022-01-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：86-88,95