基于电路级的低频噪声测试及评估

摘要：

随着5G物联网的蓬勃发展,基于MEMS传感器等应用的模拟前端电路对噪声要求水平越来越高,其中对于低频应用,低频闪烁(1/f)噪声往往成为系统性能瓶颈.而对于uV甚至nV级别的噪声信号,如何准确地进行测试评估,也需要投入大量的资源进行研究分析.本文基于华润上华流片的两款IP以及TI的两款电源芯片,采用不同的平台进行噪声测试对比分析,最终取得了可靠的低频噪声测试解决方案.

关键词：MEMS微机电系统;低频闪烁(1/f)噪声;热噪声;温度传感器;带隙基准

所属期刊栏目：30

在线出版日期：2021-10-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：71-78