SOC设计中一种提取翻转率用于IR-drop分析的方法

摘要：

0 引言
在高性能的SOC(System On Chip)芯片设计中,需要将IR-drop(电压降)控制在很小的范围内,否则,在深亚微米下如果power network做得不够好,就会出现芯片不能工作或者工作不正常的情况.在芯片设计的pre-layout(预布局)阶段,芯片设计后端组会对芯片的PG(Power and Ground)网络进行初步评估,以了解芯片内部各个模块等效为电阻或者电阻、电容、电感网络之后的IR-drop,从而指导后续的电源地网络设计,进而保证IR-drop的合理性.翻转率(包括时钟,数据等信号)在无向量分析法里作为PG网络评估的重要输入条件,输入的越精准评估的结果也就越精细,对后续的IR-drop设计的合理性就更具有指导意义.为此,本文阐述了一种如何提取高精准度翻转率的方法,用来分析芯片的IR-drop,继而用来指导后续的IR drop设计,为芯片的成功流片提供保障.

机标关键词：ir-drop、分析的方法、翻转率

所属期刊栏目：30

分类号：TN402;TP386.1;F276.6

在线出版日期：2021-08-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：27-29