IEC 61967系列-集成电路辐射发射测试方法分析

摘要：

本文介绍了国际标准IEC 61967系列标准中关于集成电路辐射发射测量方法.同时,对标准给出的TEM小室和GTEM小室法、表面扫描法、IC带状线法的测试原理,试验布置及测试方法的特点进行了说明,以帮助测试人员根据不同种类的IC进行选择相应的试验方法.

关键词：集成电路、TEM小室、GTEM小室、表面扫描法、IC带状线法

所属期刊栏目：30

分类号：TN03;TP311;TN802

在线出版日期：2021-06-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：69-73