基于FPGA的存储芯片测试系统设计

摘要：

文章介绍了存储器测试的重要性与FPGA测试系统的优势,分析了存储器常见的几种故障模型和存储器测试算法.通过XILINX FPGA芯片搭建了一个SOPC存储器测试系统.在VIVADO中以Microblaze为核心根据待测芯片的接口完成硬件系统的互联,之后在SDK软件中对搭建的硬件系统进行开发,完成了 March算法的实现.

关键词：FPGA、存储芯片、SOPC系统、芯片测试

所属期刊栏目：30

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2021-06-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：64-68,73