基于阈值电压测试对Flash进行工程筛选及性能评估的方法

摘要：

随着半导体技术的发展,对flash存储芯片的需求也在日益增加.本文介绍了一种pflash存储器的基本原理及其阈值电压的概念.详细介绍了对其阈值电压进行工程筛选的方法.研究了使用先进的自动化测试设备,通过阈值电压的测量,对flash器件的性能进行评估的方法.这些方法已成功运用于对flash器件的筛选和性能评估中.

关键词：阈值电压、flash、可靠性测试

所属期刊栏目：30

在线出版日期：2021-04-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：71-76