浅析去耦电容在ATE测试板的应用

摘要：

随着数字集成电路的不断发展,集成电路的瞬时功耗也在不断提高,对于芯片供电具有一定的挑战.本文结合一款瞬时功耗较大的芯片,介绍了去耦电容在ATE测试板上的具体应用,说明了在芯片测试过程中去耦电容的重要性.

关键词：去耦电容、ATE、IC测试

所属期刊栏目：29

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2020-12-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：83-85