晶片边缘问题芯片剔除方法

摘要：

本文介绍了在芯片生产的各个环节对晶片边缘问题芯片剔除的方法,从而提高芯片质量,减少客户抱怨.

关键词：边缘芯片、墨点、ECID

所属期刊栏目：29

在线出版日期：2020-08-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：71-73