基于UVM Phases的数字IC复位验证

摘要：

数字IC设计验证过程中,确保数字IC设计在上电后(Power-On)或出现错误后能通过复位进入一个的确定的初始状态,是设计功能正确实现的基础.验证人员需要编写测试用例,以验证各种不同场景下复位后设计的正确性和可靠性,复位验证是验证工作中必不可少的关键环节之一.UVM是近年来广泛采用的一种通用验证方法学,UVM中的phases机制为各个验证环境中各个组件提供了一个层次化的同步机制.UVM phases的跳跃(phase jump)能力,由于其原生所具备的自动终止phase相关线程和测试序列(UVM sequence)并且跳转至测试过程中特定phase的功能,可以被用于开发通用、标准化的复位验证环境.

关键词：复位、UVM、UVM phases、验证、phase jump

所属期刊栏目：29

在线出版日期：2020-08-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：17-23