基于ATE的功耗分析方法

摘要：

随着集成电路的快速发展,大规模SOC集成电路对于功耗的要求也越来越严格,更加精准的功耗测试有利于SOC集成电路的性能分析,而ATE具备了灵活精准的特点,可以实现任意时刻的功耗测试,本文结合一款SOC集成电路,介绍了一种利用ATE进行功耗分析的方法.

关键词：功耗分析、ATE、IC测试

所属期刊栏目：28

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2019-09-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：65-68