基于智能卡芯片应用场景的闪存读干扰测试方法

摘要：

工艺半导体制造工艺演进给闪存可靠性带来挑战.闪存可靠性测试是智能卡芯片可靠性测试中的关键测试,闪存可靠性测试的读干扰评价也越来越重要.本文介绍了智能卡芯片在应用场景下的闪存耐久力测试方法.该方法能提供应用级的寿命评估,同时也不会占用过多测试资源.实验结果表明作为一种应用场景可靠性水平分析方法,可用于评估和分析电信卡在应用场景下的可靠性水平.

关键词：闪存、耐久力、应用场景、可靠性测试

所属期刊栏目：28

在线出版日期：2019-08-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：78-82