通过功能B.I Stress实现早期失效筛选

摘要：

随着汽车产业的蓬勃发展,满足车规质量标准的IC无疑是各集成电路设计生产企业必争的高端高利市场领域.但是车规领域的质量需求门槛极高,需要设计,加工,筛选共同的努力才能达到车规IC的品质需求.本文介绍一种通过在测试筛选阶段加入基于功能的Burn-in(B.I)Stress,实现对IC逻辑器件早期失效的筛选.建立车规级筛选中不可缺少的一环.

关键词：Burn-in、早期失效筛选、stress、B.I

所属期刊栏目：28

在线出版日期：2019-04-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：31-34