子系统级的DFT验证平台搭建

刘翊王成伟祝媛邱天琦

西安紫光国芯半导体有限公司;

摘要：

本文提出了一个基于子系统的可测性设计(DFT)验证平台,首先,介绍了可测性设计技术的基本原理,主要方法以及相关协议;其次,介绍了片上系统级的DFT测试平台,通过对其分析提出搭建子系统级DFT验证平台的必要性;最后,详细介绍了子系统级DFT验证平台的实现,包括其原理、实现方式及其测试结果等.该子系统级DFT验证平台可将DFT验证进场作业时间点提前,并且具有收敛速度快、易于搭建等特点,对系统级DFT验证具有一定的参考价值.

关键词：可测性设计、子系统、验证平台

所属期刊栏目：27

在线出版日期：2018-12-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：41-47