IC测试过程中电源优化处理方法

摘要：

本文针对芯片测试过程中存在的芯片电源信号质量问题,介绍了通过示波器和基于泰瑞达J750测试机台,对芯片测试过程中的电源信号进行优化,从而提高了测试过程中的良品率.

关键词：波形、VB、J750

所属期刊栏目：27

在线出版日期：2018-09-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：73-75